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测试SiO2纳米粒子的时候,SEM图出现严重的漂移现象,原因?

作者 夏初纪eve1
来源: 小木虫 350 7 举报帖子
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在测试SiO2纳米粒子的时候,SEM图出现严重的漂移现象,倍数大的时候粒子也会有变形。这是什么原因呢?是导电性差和真空度不够导致的吗?
当时测试的时候没有喷金,真空度10^-3。 返回小木虫查看更多

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  • 精华评论
  • xiaoyuehit

    主要是不导电

  • gxytju2008

    先喷金试试,应该是不导电

  • 也许、明天

    毫无疑问是因为样品不导电所致,在不影响形貌的情况下,你这种情况建议喷金或者喷铂处理再去做扫描。硅是半导体,二氧化硅不掺杂的情况下压根不导电。样品分散在导电胶上喷金处理即可。即使喷金可能还是有点,到时候记得拍照的时候,扫速快一点即可。

  • 夏初纪eve1

    引用回帖:
    7楼: Originally posted by lu734732955 at 2018-10-16 08:57:10
    样品怎样可以分散到金属层上?
    ...

    用溶剂超声分散开之后滴在硅片上,用移液器滴一点点就好了。溶液也不能太浓,要稀一些,一定要超声均匀哦

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