掠入射XRD结果分析
测试一个用不同方法制备的30nm锗薄膜，用普通XRD测出来是一个鼓包，于是改用掠入射XRD测试，但是两种薄膜测试出来除了峰强不一样，半峰宽没什么区别，想问下掠入射XRD测试晶体质量与峰强有关吗？
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XRD测试，一个样品不是一次测的峰强就可能不同的。
《薄膜结构X射线表征 》可以看看
鼓包是怎样的？还有所谓的掠入射是2-theta，还是2-theta/w, 等等？
你是想看epitaxial? amorphos?
那个学校或研究院，希望多多交流，