半导体异质结界面的强反型
半导体MIS结构中的强反型条件是表面少子浓度与体内多子浓度相等
我不明白的是
1、在这个条件下,通过增大栅压,可继续增大表面少子浓度,但为什么少子只会堆积在反型层中?
2、MS结构中,也有反型层,但失去了绝缘层后,候强反型是否还会使耗尽层电势不再增大? 返回小木虫查看更多
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半导体MIS结构中的强反型条件是表面少子浓度与体内多子浓度相等
我不明白的是
1、在这个条件下,通过增大栅压,可继续增大表面少子浓度,但为什么少子只会堆积在反型层中?
2、MS结构中,也有反型层,但失去了绝缘层后,候强反型是否还会使耗尽层电势不再增大? 返回小木虫查看更多