【请教】继续请教XRD与SEM的问题
非常感谢各位热心的虫友，再请教大家一个问题
原文：
“通过SEM可以所制样品的粒径为xxnm,与XRD计算的结果基本一致。”
说明：前面我根据XRD的一个晶面用谢乐公式估算了其粒径。
审稿人意见：
2. 扫描电镜观察到的是颗粒的尺寸，XRD计算得到的是晶粒平均粒径，一个颗粒可以由一个或者多个晶粒拼接组成，两者不是一个概念，不能进行比较。
说明：文章合成的样品为纳米片。
审稿人的意见合理吗，请大家指教，对这方面不大懂
返回小木虫查看更多
今日热帖
京公网安备 11010802022153号
非常同意1号的回答
两个测试的目的不同，在物理主两者概念不同。
我觉得审稿人得意见还是合理的，你用两种方法进行了粒径的评估，这没错，可以保留，我觉得稍微在结论概括的时候换个方式参照2楼的意见把两个数据的一致性和差异性都分析清楚了或许会好些吧，
谢乐公式只是估算，有不小的误差。不过可以和TEM/HRTEM的值大致比较一下，SEM分辨率不是很高，100nm就不错了，你看到的SEM未必是初始的晶粒，而谢乐公式一般只是用于100nm>吧。
同意一楼观点
审稿人的意见是对的，颗粒是有晶粒组成，晶粒是颗粒的最小单元！
审稿人的意见是对的， TEM/SEM得到的是颗粒尺寸,XRD得到的是晶粒尺寸