样品是金属钛片上沉积了一层四氧化三钴，我是学化学的，对半导体物理不怎么了解。审稿人要求用霍尔系数来判断N或P类型（其实我已经用莫特肖特基曲线判定了，但审稿人要求霍尔系数判断）。是用Vh--Is曲线的斜率正负（和霍尔系数正负一致？）判断导体属性？样品的n或p浓度如何通过霍尔测试同时测得？还是测得的比值？是否只能知道其n型载流子浓度（n掺杂浓度）或者p型载流子浓度（p型掺杂浓度）？ 返回小木虫查看更多