应该说二者没啥关系，当然，如果到了纳米级，会有一点影响

XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关？
样品中晶粒越小，衍射峰的峰高强度越来越低，但是峰越来越宽，实际上利用X射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的（Scherrer公式）。
  晶粒大小和颗粒大小有关系，但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒，但是更可能的情况是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位噻, 但是微小的颗粒能产生散射。你磨的越细 , 散射就越强.。对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。磨得太狠的话，有些峰可能要消失了，而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加，最终会变成1个或几个"鼓包"。一般晶面间距大的峰受 晶粒细化的影响会明显一些，因为d值大的晶面容易被破坏，

那是不是说晶胞参数有规律的变化，晶粒大小不一定按照相同规律变化？

我想有可能 比如你通过掺杂或者其他手段 可以改变晶胞参数 但是同时你肯定也能通过控制反应过程来控制晶体的长大控制晶粒大小 甚至长成很大的单晶

晶格参数是可以随晶粒大小有规律变化的。一般是随着晶粒的减小晶格发生膨胀。可以看看相关的文献。

从测试的角度看，二者没有联系。

没有必然联系！