自己加工了一个顶栅结构的石墨烯场效应管，测量转移特性曲线的时候随着栅压的变化电流极性改变，做绝对值处理后出现了明显的V型曲线。但是和看到的论文里的转移曲线相比感觉过于尖锐，而且利用Vds/Ids计算出电阻随栅压Vg的变化发现成了一个近似洛伦兹曲线。这样的曲线用传统的GFET模型拟合接触电阻和载流子迁移率总是出问题，这里请教一下有经验的朋友看看是不是自己的器件存在问题。

第一次做实物测试，感觉出现拐点的话不能说器件顶栅没有调制成功，但是曲线为什么会这么尖锐？（图1是自己的测试数据，图2是电阻曲线，图3和4是论文里的部分曲线）


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