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请教关于石墨烯场效应管转移特性曲线的问题
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自己加工了一个顶栅结构的石墨烯场效应管，测量转移特性曲线的时候随着栅压的变化电流极性改变，做绝对值处理后出现了明显的V型曲线。但是和看到的论文里的转移曲线相比感觉过于尖锐，而且利用Vds/Ids计算出电阻随栅压Vg的变化发现成了一个近似洛伦兹曲线。这样的曲线用传统的GFET模型拟合接触电阻和载流子迁移率总是出问题，这里请教一下有经验的朋友看看是不是自己的器件存在问题。 第一次做实物测试，感觉出现拐点的话不能说器件顶栅没有调制成功，但是曲线为什么会这么尖锐？（图1是自己的测试数据，图2是电阻曲线，图3和4是论文里的部分曲线）  1 .jpg  2.jpg  3.jpg  4.jpg |
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2楼2020-07-09 13:34:57
3楼2020-07-09 17:26:10
windowlec
新虫 (初入文坛)
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- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
4楼2020-08-05 09:27:02
5楼2020-10-01 09:47:29
6楼2023-02-22 12:34:03
7楼2025-03-25 10:40:14
