能谱中N元素的测定
我做的是Ti(C0.3N0.6)材料,烧结(1150度,不保温)之后的材料中,做能谱是却只打出TI 与C,没有N,而TI C 的比例为75%:25%.
请教一下大家在能谱中N元素的测定不准或者是实验造成的?
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我做的是Ti(C0.3N0.6)材料,烧结(1150度,不保温)之后的材料中,做能谱是却只打出TI 与C,没有N,而TI C 的比例为75%:25%.
请教一下大家在能谱中N元素的测定不准或者是实验造成的?
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X 射线能谱(EDS)分析的一个较大弱点是目前尚不能分析原子序数为11(Na)以下的轻元素,因为这些元素的标识X射线波长较长,容易为半导体探测器上的铍窗所吸收。目前正在试制无铍窗及薄铍窗的探测器,目的是检测碳、氮、氧等轻元素。
https://www.hudong.com/wiki/%E9% ... 2%E5%88%86%E6%9E%90
波谱仪(WDS)可以测量铍(Be)-铀(U)之间的所有元素,而能谱仪(EDS)中Si(Li)检测器的铍窗口吸收超轻元素的X射线,只能分析纳(Na)以上的元素。
https://www.emroom.cn/archiver/tid-1931.html,