有一些问题不明白，希望能得到指导。

1.  掺杂后，结构的稳定性需要用phonon来验证是否稳定吗（没有实验数据），如果没有虚频出现，就可以证明此掺杂结构一定稳定吗？

2.  如果随着掺杂的量增加，能带带隙逐渐减小，并且由P型半导体变为了n型半导体，导带的宽度增大，这能说明什么啊？

3.  DOS和PDOS的分析在实际中有什么应用啊？能够反映体系的哪些性质啊？ 返回小木虫查看更多