我中科大做测试也出现了类似的情况，是在氧化锆衬底上生长的氧化物薄膜，可能是衬底太薄了，另外也有可能薄膜的信息湮没在衬底的信号中了。实验中的参数设置也并不复杂啊，
对拉曼分析透彻的高手，再给指点下吧

帮楼主顶一下。我不太懂，只是有时候测试的老师做的样品种类也有限，所以还是广开思路

我也想了解这方面的知识，可能是薄膜太薄的原因呢

请问薄膜是怎样镀上去的，是否为非晶薄膜，无拉曼峰？可能需要退火

我的是采用MOCVD做的，单晶薄膜。退火后我没有试过，既然结晶状况很好，觉得退火后影响应该不大。不知道楼主采用什么方法

as what floor #2 mentioned.

what is your substrate and film?

1000 Angstrom seems OK. have you got XRD data for your thin film?

[ Last edited by bote on 2009-9-17 at 12:03 ]，

真正做实验的时候才发现自己不明白的东西太多，谢谢各位的支持，我们面临相同的问题。薄膜是用溅射的方法做的，在做薄膜的拉曼之前我自己做过XRD，薄膜是结晶的，而且结晶的很好，之后我才去测试的。没有做出结果来真是伤心。