TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。重在分析，

TEM更可能捞到的轻、小的球形粒子，重、大的其它粒子没有捞到
可以不超声制样，直接用铜网蘸取粉末，做tem

感觉SEM对薄膜空隙形态分析好点

传图上来看看呗
有没有FIB切出来的截面的SEM？

你在做SEM时，有没有喷金啊？

标尺如果一样的话，那可能就是局部现象了，多做几次，看看