是不是视角不一样啊？

另外你选的标尺是不是一致？如果标尺不一致可能就会出现你说的样子。

建议你把图贴上来看看，然后再让大家分析分析。

首先你合成的粉是不是形貌很均匀一致
如果形貌不一致的话，可能各种形貌都有，球状棒状等。这样的话可能会出现你说的情况。你可以多拍一下不同的区域看看。
也有可能你在SEM上看到的棒状等是二次粒子的形貌，他们是由TEM上的球形一次粒子团聚结合成的特定形貌
如果两个尺寸差距很大，相差有数量级的区别时，有可能是第二个，

2楼、3楼说的都有道理，其实SEM、TEM都如同盲人摸象，只能看到样品的局部面貌，如果样品的形貌不够均匀，很容易就出现楼主所说的情况

不好意思，新手上路，请教一下，怎么贴图啊？

二楼三楼的有道理，另外两种测试制样的差别也是可能的原因之一，扫描样相保由于是沾在导电胶上吹掉的，颗粒形状基本没有变，而ＴＥＭ超声后，形貌有可能超碎了，而且超声上层清液大都是颗粒较细的粉体，所以就出现了两个不一致的情况！

这个差异有点大
可能是制备扫描样品时，样品团聚造成的，而透射可能是样品分散
可以做个对比实验，制备扫描样品时，也采用透射的方法，滴在玻璃片上或是硅片上，再看看形貌，来判断一下什么原因造成的形貌差异

两种表征手段放大的倍数不一样，在SEM上看到是一个团聚的球或棒状，在TEM里面可能只看到构成这个团聚二次颗粒的一个小单元，就是你的纳米球形颗粒了。。。

个人还是感觉这两种表征手段不能完全地说明问题。。。颗粒都是人选的，肯定先的是最好的，最能代表自己意愿的。。。