如题,得到了TEM图,能清楚的看到晶面,但是对应该物质的哪个面(米勒指数),根据什么来判断?达人请赐教吧!谢谢! [search]电镜[/search]
首先你得知道是什么晶体,然后通过图测量晶面间距,再与该晶体的各个面晶面间距比较,与测量结果再误差范围内相等的那个就是该晶面。
我也学习了
一般是先量间距(单晶一般四条 平行四边形可用两边夹一角来表征。 平行四边形的选择: 最短边原则 R1<R2<R3<R4 锐角原则:60°≤θ≤90) (多晶量环间距) 在算平方比值 以及平方差值比,
谢谢各位了,我开始也是认为测量晶面间距的,但是后来又感觉从TEM图上测晶面间距会误差很大啊,所以比较怀疑就来问了,是不是有专门的软件处理TEM图,然后测量晶面间距啊?
学习了,请达人继续支招
你说的专门软件应该是DigitalMicrograph 这个软件小木虫里有 你搜搜
我测试的时候老师告诉我先测量晶面间距,然后再去查晶体手册,确定晶体类型和晶体参数,不知道这样准确不?
首先你得知道是什么晶体,然后通过图测量晶面间距,再与该晶体的各个面晶面间距比较,与测量结果再误差范围内相等的那个就是该晶面。
我也学习了
一般是先量间距(单晶一般四条
平行四边形可用两边夹一角来表征。
平行四边形的选择:
最短边原则 R1<R2<R3<R4
锐角原则:60°≤θ≤90)
(多晶量环间距)
在算平方比值
以及平方差值比,
谢谢各位了,我开始也是认为测量晶面间距的,但是后来又感觉从TEM图上测晶面间距会误差很大啊,所以比较怀疑就来问了,是不是有专门的软件处理TEM图,然后测量晶面间距啊?
学习了,请达人继续支招
你说的专门软件应该是DigitalMicrograph
这个软件小木虫里有 你搜搜
我测试的时候老师告诉我先测量晶面间距,然后再去查晶体手册,确定晶体类型和晶体参数,不知道这样准确不?