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在玻璃或者ITO玻璃上或者硅片上有层SiO2薄膜，用AFM测厚度该怎么制样。 已有11人参与
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RT,在玻璃或者ITO玻璃上或者硅片上长了一层10nm 左右的SiO2薄膜，打算用AFM测厚度，那我该怎么制样。用针划？这样会不会把基底划破，或者Sio2薄膜能划破吗？或者利用光刻的方法制作边缘？ 没做过AFM，所以完全不懂，求指教。非常感谢 |
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5楼2014-12-31 09:53:30
yswyx 
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3楼2014-12-30 17:08:45
石银东
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6楼2014-12-31 10:27:18
