请教能否用TEM直接测试沉积在硅片上银膜的形态？
硅基底可以直接在SEM上观察样品形态，不知能否直接在TEM上观测其表面形态？
目前，我想用TEM来测硅片基底上生长的银膜成膜情况，我没有用过TEM，请知情者赐教！非常感谢！
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当然不能。。。硅片那么厚，电子怎么透过去？
我没做过这玩意儿，说个方法供你参考吧。。。不知道可行不
不知道你的银膜，对基底的要求严格不？还有银膜有多厚？
如果不的话，可以这么做，先在基底上旋涂上一层聚合物薄膜，再在上面生长银膜，再溶剂中把聚合物溶去，用铜网把银膜捞起
，
当然，如果能直接把生长在硅片基底的银膜飘下也好，就怕结合的比较紧。。。
心想事成！
当然不能。。。硅片那么厚，电子怎么透过去？
我没做过这玩意儿，说个方法供你参考吧。。。不知道可行不
不知道你的银膜，对基底的要求严格不？还有银膜有多厚？
如果不的话，可以这么做，先在基底上旋涂上一层聚合物薄膜，再在上面生长银膜，再溶剂中把聚合物溶去，用铜网把银膜捞起。。。
哦，明白了。我看文献中有用TEM表征的，或许他们是用切片的的方法！你的建议很不错，可以参考！谢谢！
请问一下，你是在哪买的硅基底？是什么规格的？
哦 不好意识 我用的硅片是实验室其他同学买的 所以具体规格情况我不清楚 我只知道本来是很大一块 像镜子一样 用时划开即可