对于超细晶材料,可以根据TEM的衍射环特征判断晶界为大角度或小角度吗?如何判断呢?其它有什么方法可以判断?请高手指教,谢谢 返回小木虫查看更多
这个可能比较难吧 建议还是EBSD吧 如果要透射的话就用高分辨吧 直接拍原子图 呵呵 也可以看出测出两晶体间的位向差
TEM和EBSD都可以统计晶界类型,TEM是根据衍射斑计算得晶界取向差,不是衍射环;EBSD比TEM的统计性好,可以测量一个区域内晶粒的晶界类型分布。XRD也能算出晶界特征分布,统计性好,但是不能与显微组织对应。
EBSD好像连相差多少度都看得出来,统计规律很好,还可以做织构比例什么的。。。 TEM好像难算点,一般好像只做两个晶粒间的吧。。。 高分辨最直观了。。。 其实我都没做过,当我乱说好了,
不知道lz说的“超细晶材料”细晶到什么程度,如果需要放大几千倍才看的到的话,EBSD的使用也受限制
谢谢大家的建议和讨论,主要是我这里设备原因高分辨难以实现,呵呵。另:晶粒尺寸约200nm
200nm好一点的EBSD的是可以搞定的.
这个可能比较难吧
建议还是EBSD吧
如果要透射的话就用高分辨吧 直接拍原子图 呵呵 也可以看出测出两晶体间的位向差
TEM和EBSD都可以统计晶界类型,TEM是根据衍射斑计算得晶界取向差,不是衍射环;EBSD比TEM的统计性好,可以测量一个区域内晶粒的晶界类型分布。XRD也能算出晶界特征分布,统计性好,但是不能与显微组织对应。
EBSD好像连相差多少度都看得出来,统计规律很好,还可以做织构比例什么的。。。
TEM好像难算点,一般好像只做两个晶粒间的吧。。。
高分辨最直观了。。。
其实我都没做过,当我乱说好了,
不知道lz说的“超细晶材料”细晶到什么程度,如果需要放大几千倍才看的到的话,EBSD的使用也受限制
谢谢大家的建议和讨论,主要是我这里设备原因高分辨难以实现,呵呵。另:晶粒尺寸约200nm
200nm好一点的EBSD的是可以搞定的.