【请教】XRD谱图峰计算晶粒尺寸的问题
在应用谢乐公式Scherrer公式D=Kλ/βcosθ 中，K为Scherrer常数，其值为0.89；D为晶粒尺寸（nm）；β为积分半高宽度，在计算的过程中，需转化为弧度（rad）；θ为衍射角；λ为X射线波长，为0.154056 nm
这个过程是如何计算的？应怎样扣除一起宽化的影响？
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1～100nm的粒径用谢乐公式算是非常准确的，我接触过得很多老教授都是这样要求我的，不要用别的方法算，直接从jade上读出来的误差很大 结果不可信，还有只是计算粒径的话没必要进行精修，精修是为了结构解析用的，当你得到xrd谱图时，最开始可以做的就是计算粒径大校�
不要人云亦云，自己亲自做做实验，获得直接的经验比什么都强。
忠告：测量FWHM是精确程度相当高的操作。从制样、扫描到数据分析都需要仔细谨慎。否者本来应有的区别被误差给掩盖了。
首先要有一个标样，最常用的是标准Si粉，测仪器的宽化因子。
学习了！
好专业，刚学完材料测试的学弟顶一顶！
纳米尺寸小的时候用谢乐公式还是比较准的，当然如果你的样品本身是立方晶系，直接用布拉格，推算也可以，基本上对照SEM， 尺寸差距也不是很大的