请问作XRD时是否分为面内和面外两种,二者的区别是什么?在测试时分别如何实现呀?多谢指教! [ Last edited by 蔓痕陌道 on 2009-5-4 at 23:53 ] 返回小木虫查看更多
楼主这个问题提得不太清楚啊
重新更改了提问的方式,不知这样是否准确些了?多谢!
从未听说过这种提法。这里的"面"是指什么呢?晶面?试样的测试面? 我看你还是把具体的问题说一说吧
我已搞清楚了,这里的面是指样品表面,谢谢!
一般的xrd都是对称扫描,反射面是平行于样品表面的晶面,测得是out-of-plane的晶格常数。如果要测in-plane的晶格信息,反射面必须是不平行于样品表面的晶面,这时做的是非对称扫描
这个倒是第一次听说,thank u
楼主这个问题提得不太清楚啊
重新更改了提问的方式,不知这样是否准确些了?多谢!
从未听说过这种提法。这里的"面"是指什么呢?晶面?试样的测试面?
我看你还是把具体的问题说一说吧
我已搞清楚了,这里的面是指样品表面,谢谢!
一般的xrd都是对称扫描,反射面是平行于样品表面的晶面,测得是out-of-plane的晶格常数。如果要测in-plane的晶格信息,反射面必须是不平行于样品表面的晶面,这时做的是非对称扫描
恩,谢谢miloyy的指点
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这个倒是第一次听说,thank u