如何证明晶格取代掺杂还是间隙掺杂？
制备的掺杂型金属氧化物催化剂，如何证明是晶格取代？我的思路是：通过XRD计算出晶格参数发生变化，又通过XPS证实掺杂原子以负二价存在，从而推断掺杂原子取代晶格氧，还请各位不吝赐教！
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都没人知道吗？！
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（1）XRD。与标准样品的XRD峰相比，相应峰出现位移，半峰宽发生变化；通过晶格计算，晶格参数有明显变化；
（2）IR。在结构特征IR区域，出现新IR峰，其它峰的半峰宽发生变化；
（3）XPS。掺杂金属离子或者主金属离子价态发生变化（XPS峰型可用洛伦兹函数解迭，或者出现新价态的离子的XPS）；
（4）固体电导的测定，并与标准样的电导相比较；
。。。。。
试试，可能有用，
楼主的思路可以尝试！
3 楼真是大侠啊
3楼所说的表征得到更多是表面信息如XPS（测试深度2-10nm），当然通过溅射可测更深；终所周知，XPS测试精度不高，随取点不同有差异。IR主要是表征表面特征；建议采用以下几种表征方法：
1.EPR；
2.Raman
3.EXAFS
那麽间隙掺杂怎么证明呢？这两个有什么样的区别呢？
Effect of Be2+ doping TiO2 on its photocatalytic activity -
S Peng, Y Li, F Jiang, G Lu, S Li - Chemical Physics Letters, 2004 - Elsevier
这个文献说的很清楚 可以参考一下