关于Scherrer公式计算晶粒大小的问题!
根据Scherrer公式，可计算晶粒子的大小：
D=Rλ/βcosθ
其中式中，D为粒子直径，R为Scherrer常数（0.89）, λ为入射X光波长（0.15406 nm），θ为衍射角（°），β为衍射峰的半高峰宽（rad）.
a) 用Scherrer公式可计算晶粒径大小，但一个样品有很多衍射峰，是计算后平均吗?还是有其它处理方法？
b) 有的XRD图谱中给出了width值，是不是半高宽度的值？能不能直接代入上面的公式吗？如果不能，怎么才能得到半高宽度的值代入Scherrer公式计算平均粒径呢？
请高手指教,非常感谢!
[ Last edited by ccx on 2007-1-30 at 14:34 ]
返回小木虫查看更多
今日热帖
京公网安备 11010802022153号
参照文献,取某一个特定衍射峰.
是半峰宽值,可直接作为B
scherrer公式通常适用于3-200nm的颗粒的计算。
通常是角度越高越准确，不过角度高的可能强度比较弱，所以可以选择比较强的峰进行计算。
如果晶型是立方面心之类的结构，应该每个峰算出来都一样的，但如果是不对称结构，每个晶面算出来就不一样。
计算机给出的半峰宽可以直接用，不过如果要严格计算的话，还要扣除仪器展宽等的影响，
有道理
展宽一般取0.05，我算的时候
首先非常感谢三位虫友的解答!
通过TEM估算样品的粒径:1号样品是10-80nm,2号样品是40-60nm.可我利用Scherrer公式计算出的两个样品的粒径分别是6.5nm和7.2nm,为什么相差那么大啊?
这是因为按scherrer公式算出来的是一次或者是两个晶面间的距离，而通常TEM看到的多个一次晶粒堆积而成的二次晶粒，故两者是由差别的。
因为XRD算出来的是晶粒半径，而电镜是颗粒半径，颗粒半径大于等于晶粒半径。
我认为如果是呈单分散状态的话,TEM的结果应该和XRD计算的结果比较接近。一般我们计算的时候都不用测试时给出的峰宽数值，而是再另外算的。还有就是XRD得到的是平均值，而TEM只是你样品中微乎其微的一点，是否有这个方面的因素？