质子导体BZY薄膜的EIS测试总是失败，出现散乱的点，该怎么办呀？
最近测试EIS遇到了些问题。我们实验室是用探针台连接探针去接触薄膜样品，测试过程中升温+通湿润的氩氢混合气，测试设备是solaron 1260+1296，测试温度为200-400度。可是每次测试，Nyquist图都没有测出过半圆，经常是散乱的点，而且在低频下会偏向第二象限，请问有没有小伙伴知道这是为什么呀？（电极是利用磁控溅射在薄膜样品上喷200nmPt做的紧密条纹电极）
不太好的数据大概是这样的：
较好的数据是这样：
求求大家帮帮忙，谢谢了！！@langzhizhou@Gamry-电化学
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( 我外行, 只能抛砖引玉 )
查 ResearchGate.net 论坛后觉得 PVD vs PLD 之外, 还有两个问题
常见问题是 "Q1: 怎么用 EIS 来测薄膜的电阻抗 (impedance)"
记得不要光看
https://www.researchgate.net/pos ... _polymeric_membrane
还要注意 (同一网页下方) 更确切的
https://www.researchgate.net/pos ... edance_spectroscopy
或相关问题
https://www.researchgate.net/pos ... _or_gel_electrolyte [1]
因为不只为纠正思想读幕, 还得找专家, 例如 (图1, 附文1) Institute of Ceramics and Glass 的 Jadra Mosa 研究员 ( mjmosa@icv.csic.es )
更具体问题是 "Q2: 怎么用 Solatron 1260+ Solartron 1296 来测电阻抗?"
https://www.researchgate.net/pos ... at_room_temperature [3]
https://www.researchgate.net/pos ... edance_measurement2 [2]
建议尽早联系 (图2, 附文2) EIS Laboratory 的 Petr Viscor 研究员 ( viscorpetr@gmail.com ), 因为 Solatron 1260 / 1296 很可能本身不适合测电阻抗 (!)
PS: Forschungszentrum Jülich 的 Thomas Simons 研究员 [3] ( t.simons@fz-juelich.de ) 对此也很有经验
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图 1 - 用 EIS 测 电阻抗 操作重点.jpg
图 2 - Solartron 仪器缺点.jpg
，
为了 省时/克服语言障碍, 建议
- 把实验操作实况用高品质手机拍成短片, 方便上网讨论 样本粗糙/夹具偏差/校准有误 一类细节
- 先联系在美国俄亥俄州的王工程师, 尽可能把能解决的基本问题都先对付了
https://www.researchgate.net/pos ... ment2#opennewwindow
https://udayton.edu/directory/udri/powerenergy/wang-yuxing.php
- 王工程师对付不了的 (SI 1296 和 SI 1287A 差异) 问题, 转问 Forschungszentrum Jülich 的 Thomas Simons 研究员 ( t.simons@fz-juelich.de ),
实在不行再联系 Institute of Ceramics and Glass 的 Jadra Mosa 研究员 ( mjmosa@icv.csic.es ) 或 EIS Laboratory 的 Petr Viscor 研究员 ( viscorpetr@gmail.com )
提醒:
- 王工程师很会争取经费, 可找适当时间问问做这实验有什么前途
- 读文章吃力, 先别读文章 !
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