如题，小虫最近做出了一个半导体，粉末状，所以用红外压片机压了片进行测量。直径13mm,厚度1.5mm,用两探针法测的电导率很低，接近绝缘体。请问在测试过程中哪些会影响电导率的结果？我有一些问题不太懂。第一是压片的厚度，可不可以稍微薄一点，因为1.5mm厚度一般需要400mg的样品，有点多，可不可以减半？第二个样品压片表面可不可以增加银胶的用量，让其充分接触，减少接触不充分导致的电导率下降？第三是，测量的过程中，我们使用的是铜膜覆在塑料板上作为电极，一端与样品上银胶接触，另一端用鳄鱼夹夹住。请问这种用铜膜的方法可行吗？第四是还有哪些测量中的细节需要注意？因为电导率太低了，想要减少实验上的错误，看样品的电导率是不是真的这么低。欢迎大家提供宝贵经验。 返回小木虫查看更多