求教一个关于XRD原理的问题
XRD的衍射峰由电子对X射线的衍射产生，X射线的入射角和波长要符合布拉格方程2dsinθ=λ才能产生衍射，我的问题是关于θ角，一般的XRD仪测得的为什么是2θ角，2θ角为什么一般小于90，而不能更大，衍射的时候θ角是可以大于45度，2θ是可以大于90度的啊？当教材上解释布拉格方程的时候一般用的平面反射的简单原理，它和衍射推导的结果是一致的。既然是一致的，为什么X射线在晶面反射的时候默认晶面是水平的，在做XRD测试的时候特定的晶面是随机的啊？也就是，XRD测试x射线源和接收器的角度都是从0开始逐渐增大的，测的谱图2θ也是从0逐渐增大的，但因为测试的时候晶面都是随机的，按照平面反射的模型，入射角θ完全是随机的，为什么每次测同一种样品都会得到相同的谱图呢？
这个问题对懂得的人来说可能比较可笑，但它确实困扰我比较久，希望能够热心解答，谢谢！
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2theta可以更大，但是一般90以内，足以辨别物相，做各种分析，再高角度就是浪费时间测试而已。
后面的问题，你说的是粉末衍射。晶体取向是随机的，X-ray打上也是有各个方向的都有衍射，但是接受器的位置是一定的，只能接受随机散射中符合theta-2theta的那些。
用2theta是因为测试的时候射线源和接收器是两边对称旋转的，每侧升起的角度为theta。（你如果想只动射线源或者接收器也可以的，只不过那不是常规的xrd测试）
从硬件角度2theta可以超过90度的，一般仪器的上限可能在130-150度左右，但是根据布拉格方程，超过80度一般对应的是多级衍射，峰强度很低，大部分晶体都没有峰了，所以90度以下只是一个general的测试条件，并不是强制。
测试的时候样品上暴露的晶面是随机的，但这个随机指的是你的样品有足够多的晶面，根据各个晶面的稳定性不同肯定会有一定的分布，比如001最稳定，占70%，110占20%。只要你能保证每次样品暴露的晶面足够多，每次的测试结果就应该大体一致。这也是为什么粉末样品要研磨避免择优取向的原因。
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嗯，你的回复比应助回复说得详细一些，感谢