为什么EDS测试中会有少了的硅元素出现
在原有的催化剂中没有硅元素，测试的EDS中出现了少量硅元素，审稿人问，应该怎么解答，谢谢！
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我的材料里面也没有回。但是因为我是测SEM是测的EDS，需要滴到硅片上，所以我觉得硅的峰应该是基底峰
逃逸峰是Si ( Li)探测器在检测过程中的副产品，当一个能量为E的X射线光子进人探测器后，可能使硅原子电离而产生Si Ka射线，如果这种Si K。射线是在晶体的边沿产生或Si的Ka线离探测器表面很近时，就有可能逃出探测器，并携带走1. 74 ke.V的能量，这样使检测到的X射线的能量不是E，而是(E一1. 74) keV，因此在主峰(能量为E)的左侧会出现一个小峰(能量为E-1. 74 keV)，这个小峰就叫做逃逸峰逃逸峰的位置永远比主峰1. 74keV.而且峰高约为主峰的0.1%一1%
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