Si的XPS图在104.8ev有峰，如何分析
我做的Si-TiO2，查文献二氧化硅的XPS在103.4，而Ti-O-Si比这个值低，而我的比这个高，在104.8ev，如何分析？实在查不到了
Si.JPG
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可是我的EDS里面也有硅，会不会是太少了所以信号很弱。
如果EDS能测到信号，那XPS也是可以的，建议测试老师进行多次收谱，使信号叠加增加信噪比，就容易分析了。
我现在的这个XPS是不是不能说明有Si
，
Si-OH的峰在104.8 eV