该讲座重点介绍原子力显微镜各种成像模式的参数设定及其对成像质量的影响，重点讲解Tapping模式和PeakForce Tapping模式的力控制以及高分辨成像。探讨探针、样品、参数设定等对最终成像质量的影响。
　　注册报名：https://www.antpedia.com/webinar/258775121.html
　　讲座时间：2016年9月7日 上午 10:00
　　主讲人：孙昊博士，主要研究方向是基于扫描探针显微技术的无机纳米材料的制备和表征。2010年获得理学博士学位。毕业后加入Bruker纳米表面仪器部担任客户服务中心及售后服务主管。
　　讲座结束后，我们将从注册并准时参会者中抽取4名幸运奖，赠送价值50元的京东礼品卡!


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