各位同仁，小弟最近做实验碰到这个问题，如果用一个普通的工业CCD去测量激光光束，测量图案会产生干涉现象，Sample Text，但是如果用一个光束轮廓分析仪同样来测量，是不会有这个问题的，所以我的问题就是，如果用普通的CCD测量，如何通过外部方法来解决测量光束的干涉？然后为什么用光束分析仪就没有，这个是为什么？ 返回小木虫查看更多