如图,原始数据压平后颗粒后边带有很多沟状,求AFM大神告知解决办法 另外,扫除的图出现下边这种状况怎么解决?今天扫图,老是这样,很恼火啊 返回小木虫查看更多
第一幅图与第二幅图的情况是不一样的。 第一幅图中,你看到的拖影问题是由于数据处理中使用平滑而导致(叫flattening或者leveling)。 其原理是这样的: 由于大部分基底本身有一个倾角, 所以扫描出来的图片如果不做平滑处理,那么就会出现结果一边高一边低的情况。表现在图像上就是从一边亮,一边暗。 因此,为了得到样品的精细结构,就必须对每一条扫描线进行拟合,y=a*x。 然后从原始数据中减去这条拟合曲线。 由于系统无法区分基底跟真实样品,所以拟合出来y=a*x就会有很大的误差, 导致减去的拟合线后的结果在真实凸起样品部分会有阴影。 不知道我这样解释,你明白没有? 第二幅图,你压得力不够大,或者是Igain不够高,在颗粒出出现针尖与样品失去接触或者是颗粒跟针尖一起移动的情况。 这是参数没有调好的结果,与数据处理无关,
第二个问题,你可以用trance 和retrance对比一下,找到最佳参数;另外考虑一下是否探针磨损了,扫一下标准样品看看磨损情况。
第一幅图与第二幅图的情况是不一样的。
第一幅图中,你看到的拖影问题是由于数据处理中使用平滑而导致(叫flattening或者leveling)。 其原理是这样的: 由于大部分基底本身有一个倾角, 所以扫描出来的图片如果不做平滑处理,那么就会出现结果一边高一边低的情况。表现在图像上就是从一边亮,一边暗。 因此,为了得到样品的精细结构,就必须对每一条扫描线进行拟合,y=a*x。 然后从原始数据中减去这条拟合曲线。 由于系统无法区分基底跟真实样品,所以拟合出来y=a*x就会有很大的误差, 导致减去的拟合线后的结果在真实凸起样品部分会有阴影。 不知道我这样解释,你明白没有?
第二幅图,你压得力不够大,或者是Igain不够高,在颗粒出出现针尖与样品失去接触或者是颗粒跟针尖一起移动的情况。 这是参数没有调好的结果,与数据处理无关,
二楼说得对,应该是参数没调好。
另外有些样品表面有有particle之类的超出量程也会造成这种亮点
第二个问题,你可以用trance 和retrance对比一下,找到最佳参数;另外考虑一下是否探针磨损了,扫一下标准样品看看磨损情况。
对比trace和retrace怎么调整参数呢?