通常的做法：从HRTEM中量出其晶格间距，结合XRD的数据，利用布拉格方程，推算出其所对应的晶面，而后再结合晶体结构的模型，分析其暴露的晶面，和其性质或合成条件进行关联。

谢谢！但能不能再具体点呢？

首先，你要知道自己想从这些表征方式里得到什么信息。TEM，HRTEM，SAED主要是来确定物质的外形（TEM），通过衬度不一致得到一些关于物质组成的信息；HRTEM一般用来分析晶格的，可以针对某个晶格阵列来确定其可能是某种物质。SAED是用来分析元素组成，是一种验证手段。
只有自己明确了想要知道什么，再去分析是否这些手段满足了自己的要求，

谢谢！ 我现在是已知是什么物质了，想通过HRTEM以及SAED来确定物质的晶面常数以及生长方向。现在我遇到的问题是不会标定电子衍射，不会分析电子衍射图。

楼主跟我遇到的问题一样啊~~~~呵呵~~~我前阶段也不知道~后来看了一下章晓中的< 电子显微分析>上面比较详细~~

看郭可信老先生的书，他是咱们国家电镜的元老

你好，请问是郭可信先生的什么书呢？书名还记得吗？谢谢了！