请问一下:掺杂了其他元素后,XRD的峰位置与标准卡片相比发生了少许移动 这是什么原理啊? 补充:材料H2TiO3, 掺杂的是Cr 返回小木虫查看更多
看是什么样的移动了,有可能是零点没有校准。 还有就是晶格常数变了
晶胞体积有变化。
掺杂后样品的晶格参数发生了一点儿变化,导致衍射峰发生了移动。 Cr的离子半径与Ti不同,所以导致掺杂后晶格参数不同。 [ Last edited by zbdfwq5777 on 2009-11-4 at 16:03 ],
长知识了。
杂质进入了晶体内部,引起了晶格常数、晶面间距等参数发生了变化。也有可能是本征晶体的缺陷导致上述参数的变化。
比如衍射特征峰前移有可能是Cr替代导致晶胞体积增大
看是什么样的移动了,有可能是零点没有校准。
还有就是晶格常数变了
晶胞体积有变化。
掺杂后样品的晶格参数发生了一点儿变化,导致衍射峰发生了移动。
Cr的离子半径与Ti不同,所以导致掺杂后晶格参数不同。
[ Last edited by zbdfwq5777 on 2009-11-4 at 16:03 ],
长知识了。
杂质进入了晶体内部,引起了晶格常数、晶面间距等参数发生了变化。也有可能是本征晶体的缺陷导致上述参数的变化。
比如衍射特征峰前移有可能是Cr替代导致晶胞体积增大