XRD表征结晶程度通过谢乐公式，主要是晶体晶面衍射与峰宽的影响，衍射峰越宽有序度越低，晶面越不平正，结晶性越差；Raman是通过光声电效应产生的拉曼频移，结晶度主要受双共振拉曼散射影响，你可以试试查一些拉曼光谱方面的书看看机理。
你做的是薄膜材料如果太薄的话，小于10nm，可能小角测起来都有问题，xrd如何表征薄膜材料好像衍射仪有要求的

XRD测组分及晶形，Roman测键的类型。

希望继续有人回答，奖励金币可以无限增加的

XRD测相成分及晶体结构
拉曼测化学键 类似红外

薄膜材料结晶性能若较差，XRD因分辨率不很高而测量不出很正常。关于Raman，它主要测试微晶群效应，若晶粒较小较多，Raman可以测出，而XRD测不出，直到晶粒达到一定大小才能测出。想测出XRD,可以尝试改变薄膜生长条件。

我跟你的恰好相反，我是XRD测出，Raman测不出峰
是不是晶粒太小的原因？