【讨论】求助: 关于EIS测试拟合中CPE的问题
请问高手们一个问题:
我们在对Nyquist图拟合时,如果涉及到CPE(常相角元件),它包括两部分:即:
Q-Y和Q-n, 后者是CPE指数,也是弥散指数,
我要问的是前者的数值是什么?它的大小能说明什么问题?谢谢朋友!!!!!!
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当n=1时，CPE为纯电容，当n>0.8时，CPE为电容性质，Y值可通过公式转化成电容；当n=0.5时，CPE为无限扩散性Warburg元件性质，
一楼的朋友,你还是没有回答我的问题呀, Q-Y是什么意思, 我以前也看过可以转换
Q-Y
Y是电导,阻抗Z的倒数
Q-Y是与n值的变化，其物理意义是发生变化的。n=1时，Y为电容值，n>0.8时，Y值为并非真正的电容值，要通过换算成真正的电容值，n=0.5时，它为Warburg扩散电阻值，n=0时，它为纯电阻值
，
谢谢,回答的很好
我也碰到这个问题，学习了！
以前也与到类似的问题，不过我没想那么细...