我们可以在xy面上旋转z（0-180°），也可以分别在xy,yz 面上旋转，以覆盖整个空间整个空间，究竟是θ-2θ扫描，还是 ω/φ要在文件中可看出的，在文章里要注明即可。

ω扫描和φ扫描到底是一个什么样的原理，有什么作用呢？

这要查看有关现代材料分析测试技术的书籍

普通的2θ扫描是样品或x射线管转动θ，探测器转动2θ，一般依据峰位分析物相；ω扫描，即摇摆曲线，入射的X光保持不变，探测器保持不变，同时入射光同探测器之间的夹角也保持不变（固定在2theta）。然后样品围绕着平行于样品表面的一根轴（此轴也垂直于由入射光和探测器两相交直线构成的平面）来回转动，用来描述某一特定晶面在样品中角发散大小的测试方法；φ扫描，即phi-scan，是样品先倾斜一个角度（要扫的面和生长面的夹角）再自身旋转360度，一般用来分析样品面内排布（对称性，有无孪晶等）。个人理解，不完整哈
半年前我也在这问过类似问题，http://muchong.com/bbs/viewthread.php?tid=1067967，

谢谢哈，谢谢大家。

一般高分辨XRD有四个自由度,可以看看<半导体检测与分析>第二版,有详细得解释