一个是透射束成像，一个是衍射束成像

透射电镜图像分为试样的显微像和衍射花样，这两种像分别为不同电子成像，前者是透射电子成像，后者为散射电子成像。
　　透射电镜中，不仅可以选择特定的像区进行电子衍射（选区电子衍射），还可以选择成像电子束。（选择衍射成像）
　　明场像（BF）：选用直射电子形成的像（透射束），像清晰。
　　暗场像（DF）：选用散射电子形成的像（衍射束），像有畸变、分辨率低。
　　成像电子的选择是通过在物镜的背焦面上插入物镜光阑来实现的。
　　中心暗场像（CDF）：入射电子束对试样倾斜照明，得到的暗场像。像不畸变、分辨率高。
　　暗场成像条件下，成像电子束偏离透射电镜的光轴，造成较大的像差，成像质量差，为获得高质量暗场像，采取　　中心暗场成像。即入射电子束反向倾斜一个相应的散射角度，使散射电子沿光轴传播。

感谢二位，可不知这两种成像，二者放在一起怎么分析呢？

首先，HRTEM中只有明场成像，没有暗场成像。
所谓明场，暗场成像只是对低倍观察时说的。
对于成像的原理和特点2，3楼都说得比较完全。
我来说说对于这两种方法得到图像的分析。
一般来说，观察形貌我们都比较喜欢用明场像，因为成像衬度好（尤其是加了合适的光阑），形变小。其主要表现为厚度衬度，对厚度敏感。

而观察缺陷如位错，孪晶的时候喜欢用暗场像，因为暗场像是来自于选定的某个衍射束，对应于晶体特定的晶面。在缺陷地方，电子衍射的方向和完整的地方不一样，从而使得缺陷地方能够在暗场像上清楚的显示出来。而明场像因为是多个衍射束的成像，对缺陷不敏感，虽然有时候也能反应出缺陷，但是及其模糊。其主要表现为衍射衬度。也就是对衍射面敏感。

比如说一个孪晶材料，对于明场，孪晶界面很淡，但是选择合适的衍射点做暗场像可以很清楚的看见孪晶界面。而且选择其中一个晶体特有的衍射点，做暗场可以发现只有这一个晶体出现在图像上，而另外一个晶体看不见。

对于暗场一个重要的用途是观察层错，比如说立方晶系里面的111方向的层错用明场像无法看出来。因为有缺陷和无缺陷的地方厚度一样。但是暗场像在特定的方向观察时，可以观察到三角形或者蝴蝶状甚至金字塔装的衬度明暗条纹。这个时候用到的一个TEM技术叫做双束。

中间可能有些表述不清楚，敬请原谅，

P.S.楼主有钱人我这么辛苦回帖，可不可以帮忙赏点金币，论坛有些贴子都看不了。有什么结构，TEM的问题可以一起讨论。
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牛人，学习了！

顺便请教：透射电镜都可以做明场和暗场像吗？我看我们实验室的人在学校的透射电镜做的都是明场像。