【求助】 广角X射线衍射(WAXD)与X射线衍射(XRD)有什么区别
初学者请教:广角X射线衍射(WAXD)与X射线衍射(XRD)有什么区别?测量聚酯类材料的结晶度用XRD来测量可以吗?XRD可以测量材料表面改性后(改性厚度大概在5um)表面结晶度的变化吗?谢谢大家的指点!
[search]WAXD[/search]
[ Last edited by wellok101 on 2008-6-3 at 13:21 ]
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初学者请教:广角X射线衍射(WAXD)与X射线衍射(XRD)有什么区别?测量聚酯类材料的结晶度用XRD来测量可以吗?XRD可以测量材料表面改性后(改性厚度大概在5um)表面结晶度的变化吗?谢谢大家的指点!
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[ Last edited by wellok101 on 2008-6-3 at 13:21 ]
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应该是同一台仪器..只是设置参数不一样吧....
XRD是测量结晶度最好的方法了。
虽然DSC也能测,但是DSC测量中必然伴随着升温,那么升温过程中的晶型改变也是不可避免的了。
测XRD要先做成薄片的。然后用X衍射。
XRD与WAXD没有区别。只是衍射的范围不一样,
XRD 可以分为WAXD于SAXS两种;WAXD扫描角度一般为5-80度,SAXS扫描角度一般为0.2-2度。测结晶度用WAXD就行。测长周期或结晶厚度用SAXS
了解更彻底了,谢谢