【讨论】能带弯曲
希望各位虫友能讨论一下半导体异质结能带弯曲的问题,能带在什么情况下会发生弯曲?会出现何种弯曲?弯曲的幅度有没有定量的标准或测量方法?
[ Last edited by lvzhu2007 on 2008-4-5 at 10:01 ]
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希望各位虫友能讨论一下半导体异质结能带弯曲的问题,能带在什么情况下会发生弯曲?会出现何种弯曲?弯曲的幅度有没有定量的标准或测量方法?
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能带弯曲的主要原因是两个接触的半导体,其费米能级差不为零,
由于接触后,费米能级要在最终相等,所以高的费米能级下降低的上升,造成了能带弯曲,能带弯曲量,即内建电场范围由掺杂浓度决定,掺杂浓度大的一侧弯曲量小,小的一侧大。
弯曲量的大小可以由计算得出,你可以参考西安电子科大许长存老师的《半导体光电子技术》,或者其它方面的书籍,一般这方面的书都应该有的。
当掺杂浓度量相差两个数量级以上(两边空间电荷区宽度之比即两边掺杂浓度的反比),空间电荷区可认为只在低掺杂的一侧。宽度为
W=(2εVD/eNa)1/2,其中,ε为低掺杂一侧半导体的介电常数,
VD =(Ef1-Ef2)/e, (Ef1-Ef2)为费米能级之差,
Na为低掺杂一侧的掺杂浓度,e为一个电子的带电量。
如果具体计算,就可以找相关的书籍了,一般的半导体书都应该有的,
请问,有用第一性原理计算能带弯曲的吗?
半导体异质结物理这本书提到有几种方法可以测量,是一个姓虞的编的,可以去看看