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王致远

金虫 (著名写手)

[求助] 求助 ZnO 薄膜器件(TFT)的IV测试 已有3人参与

本人最近在做ZnO/SiO2/n-type-Si 的TFT结构,想做其IV测试,但是效果一直不理想。希望有了解的人给予帮助。
我的样品为100nmZnO,100nmSiO2,n-type Si(电阻率2.3-4.3Ω·cm),在ZnO表面做了两个金(Au)电极,电极间距为2mm,电极宽度为5mm。在Si衬底上用银胶连接了铜引线(如图1)。
我测试的问题主要有两点:第一点,我的实验Ids 一般mA量级,然而文献中的多为uA量级,比我的小多了。第二点,文献中的Vgs加一定的电压时,在Vds=10V左右就出现了饱和。但是我的测试一直没有测试出饱和区。

图2-图5是从不同文章中截的图。

期待做过相关测试的同学给予帮助。
求助 ZnO 薄膜器件(TFT)的IV测试
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求助 ZnO 薄膜器件(TFT)的IV测试-1
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求助 ZnO 薄膜器件(TFT)的IV测试-2
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求助 ZnO 薄膜器件(TFT)的IV测试-3
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求助 ZnO 薄膜器件(TFT)的IV测试-4
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wu1008

金虫 (著名写手)

电极间距为2mm?开什么玩笑?
5楼2013-07-15 23:43:42
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wiseroy

木虫 (著名写手)

更多共享-更多交流-更多进步

引用回帖:
3楼: Originally posted by 王致远 at 2013-07-15 22:28:01
SiO2 薄膜100nm,不会有漏电流吧?...

因为是做实验,所以,我也是猜测,氧空位
善良
4楼2013-07-15 22:31:23
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Fateam

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
王致远: 金币+2, ★★★很有帮助 2013-07-16 20:04:43
比较粗糙的说,源漏电流大小和你电极的大小有关系。文献的电流小,可能电极也比你小得多。这个不是问题的主因。你的器件制备尺寸也太大了,换一个小一点的模版吧。一般来说,膜越大,缺陷问题也就越多,性质也差。

看你的图,这个就是导电了啊,场效应完全没有出来。100nm的氧化硅如果是热氧化的话,30或者40V的电压应当是没有问题的。
首先,检查一下本身你的测试仪器没有问题,有没有短路或者接错,可以测试一个保证没有问题的器件作参考。
其次,把器件单独划开,这样可以减小漏电流。直接用探针划开就可以。
7楼2013-07-16 19:13:52
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普通回帖

wiseroy

木虫 (著名写手)

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【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
王致远: 金币+2, 有帮助 2013-07-15 22:26:15
感觉薄膜有点漏电?是不是可以退火?
善良
2楼2013-07-15 20:05:07
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王致远

金虫 (著名写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by wiseroy at 2013-07-15 20:05:07
感觉薄膜有点漏电?是不是可以退火?

SiO2 薄膜100nm,不会有漏电流吧?
3楼2013-07-15 22:28:01
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匿名

用户注销 (正式写手)

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
王致远: 金币+2, 有帮助 2013-07-16 20:03:15
本帖仅楼主可见
6楼2013-07-16 08:08:46
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王致远

金虫 (著名写手)

引用回帖:
6楼: Originally posted by ljw1202 at 2013-07-16 08:08:46
先不说器件结构问题,漏电流这么大,肯定是薄膜质量问题,可以改变实验条件,比如说生长温度,氧气含量,另外SiO2是ALD还是RF-SD不明,改变实验方法也是个选项,另外如果薄膜过厚会导致多晶,建议20-30纳米为宜。

SiO2是在公司买的成品,热生长的
8楼2013-07-16 20:03:47
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nanohappy

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
王致远: 金币+2, 有帮助 2013-07-19 00:42:31
从IV看,金属性,完全导通了,肯定回路的问题
9楼2013-07-17 17:33:21
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王致远

金虫 (著名写手)

引用回帖:
5楼: Originally posted by wu1008 at 2013-07-15 23:43:42
电极间距为2mm?开什么玩笑?

尺寸小的掩膜板也做了。文章中也有做很大电极的。我现在主要是想初步看看效果,所以想用大点的电极试验一下,以后会用小电极的。电极大了差距会很大么?
10楼2013-07-19 00:41:39
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