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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 功能薄膜 » 求助 ZnO 薄膜器件（TFT）的IV测试
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科大我来了

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
7楼: Originally posted by Fateam at 2013-07-16 19:13:52
比较粗糙的说，源漏电流大小和你电极的大小有关系。文献的电流小，可能电极也比你小得多。这个不是问题的主因。你的器件制备尺寸也太大了，换一个小一点的模版吧。一般来说，膜越大，缺陷问题也就越多，性质也差。
...

可以私信我吗？讨论下
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21楼2018-01-08 17:13:12
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新虫 (初入文坛)
引用回帖:
7楼: Originally posted by Fateam at 2013-07-16 19:13:52
比较粗糙的说，源漏电流大小和你电极的大小有关系。文献的电流小，可能电极也比你小得多。这个不是问题的主因。你的器件制备尺寸也太大了，换一个小一点的模版吧。一般来说，膜越大，缺陷问题也就越多，性质也差。
...

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22楼2018-01-08 17:13:14
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