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帮忙分析下薄膜的SEM图
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Smallpeng
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帮忙分析下薄膜的SEM图
我的薄膜是溅射在硅片上的,在SEM下观察。二次电子模式下,一片光亮,像镜面一样,没有晶粒发现,但在背散模式下就发现有很多裂纹,这是为什么呢?为什么在仅在背散模式下观察到裂纹啊,是裂纹处的成分发生变化还是怎么回事?
二次电子模式
背散模式
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1楼
2012-07-11 10:50:13
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liyiming
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6楼
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Originally posted by
Smallpeng
at 2012-07-15 19:39:49
不好意思,我上图的时候没注意放大倍数,二次电子在1k倍的时候和500倍一样,同样没发现裂纹...
如果二次电子像是成功聚焦的话,从形貌上看是没有裂纹的。bse除了具有形貌衬度意外,还对成分敏感,因此考虑是否某种成分在界面处的偏聚。(具体的研究内容并不了解,仅从图片分析的角度考虑。)
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8楼
2012-10-04 09:50:10
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2012-07-15 12:26:52
硅片裂纹! 是否镀膜时候造成的? 对照观察一下镀膜前的基片表面情况!
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2楼
2012-07-15 09:48:44
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2楼
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COXEM
at 2012-07-15 09:48:44
硅片裂纹! 是否镀膜时候造成的? 对照观察一下镀膜前的基片表面情况!
怎么成了硅片裂纹?
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3楼
2012-07-15 11:05:41
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Smallpeng
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COXEM
at 2012-07-15 09:48:44
硅片裂纹! 是否镀膜时候造成的? 对照观察一下镀膜前的基片表面情况!
硅片裂纹?如何解释?我溅射的薄一点的话就没有裂纹出现,如果是硅片裂纹的话应该不管薄厚都出现裂纹的啊!那又为什么在二次电子下没发现裂纹只在背散下看到呢?
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勇敢自信踏实,科研其实和生活是一样一样的
4楼
2012-07-15 12:31:08
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