应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 功能薄膜 » 帮忙分析下薄膜的SEM图
21/1返回列表
查看: 2886  |  回复: 8
查看全部回帖 @他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看
当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖

Smallpeng

木虫 (正式写手)

[求助] 帮忙分析下薄膜的SEM图

我的薄膜是溅射在硅片上的，在SEM下观察。二次电子模式下，一片光亮，像镜面一样，没有晶粒发现，但在背散模式下就发现有很多裂纹，这是为什么呢？为什么在仅在背散模式下观察到裂纹啊，是裂纹处的成分发生变化还是怎么回事？

二次电子模式



背散模式
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
勇敢自信踏实，科研其实和生活是一样一样的
1楼 2012-07-11 10:50:13
已阅   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

liyiming

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
6楼: Originally posted by Smallpeng at 2012-07-15 19:39:49
不好意思，我上图的时候没注意放大倍数，二次电子在1k倍的时候和500倍一样，同样没发现裂纹...

如果二次电子像是成功聚焦的话，从形貌上看是没有裂纹的。bse除了具有形貌衬度意外，还对成分敏感，因此考虑是否某种成分在界面处的偏聚。（具体的研究内容并不了解，仅从图片分析的角度考虑。）
赞一下 回复此楼
8楼2012-10-04 09:50:10
已阅   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 Smallpeng 的主题更新
21/1返回列表
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭