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SEM测表面形貌的问题
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wwj_0905
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[交流]
SEM测表面形貌的问题
大家好,我想请问一个SEM的问题。
假如我用AB两个材料混在一起制成了膜,去测试SEM,那么请问最终测得的表面形貌,它是对AB两个材料导电性能对比度更加敏感,还是对整个膜的表面凹凸更为敏感呢?换而言之,我看到的是A和B互相共混的结构还是AB膜的表面的结构呢?
还有另外一个问题就是,我昨天看到有的帖子说,如果表层膜薄,而电压过高,会导致这层膜被穿透,从而测得的是基底的信息,我想请问这种说法对不对?如果表面的薄膜压根不导电,得到的信息会是什么呢?
非常感谢。
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1楼
2015-06-18 16:41:37
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frolod
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Originally posted by
wwj_0905
at 2015-06-18 20:32:54
你好,请问如何调节测试电流?我好想从来没看到过这个选项啊...
你用的钨灯丝的还是场发射电镜?哪家的电镜?可以百度一下
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5楼
2015-06-18 21:26:21
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如果表面不导电,高电压会造成表面亮度反射,基本上一片白光,看不到任何东西;如果降低电压(5Kv/10Kv)和测试电流,测到的只是AB混合的表面。想看内部,最好TEM
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3楼
2015-06-18 20:20:00
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wwj_0905
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3楼
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frolod
at 2015-06-18 20:20:00
如果表面不导电,高电压会造成表面亮度反射,基本上一片白光,看不到任何东西;如果降低电压(5Kv/10Kv)和测试电流,测到的只是AB混合的表面。想看内部,最好TEM
你好,请问如何调节测试电流?我好想从来没看到过这个选项啊
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4楼
2015-06-18 20:32:54
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jiangcong
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这个也需要看你做成薄膜的厚度,若果很厚,你这能看到最上一层,你需要观察侧面来看薄膜的相对厚度;
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6楼
2015-06-18 21:42:27
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