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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 网络生活区 » 有奖问答 » 实验讨论 » XRD测试，用薄膜测试法和粉末测试法出来的结果完全不同！！
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小菜虫000

新虫 (初入文坛)

[求助] XRD测试，用薄膜测试法和粉末测试法出来的结果完全不同！！

我PLD制备的ZnO掺Mg薄膜，为啥我用不同的测试方法出来的数据完全不同，如下图。上面是我用粉末法测试的，下面的是薄膜法测试的且薄膜测试的能量更高！求解！
XRD测试，用薄膜测试法和粉末测试法出来的结果完全不同！！
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1楼 2013-12-16 17:29:35
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回帖支持 ( 显示支持度最高的前 50 名 )

小菜虫000

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
3楼: Originally posted by crazy1987 at 2013-12-17 10:19:37
如果是普通的粉末法（其实不叫粉末法）测试的话，那应该是普通扫描，那么，如果你的薄膜是附在一个pt基片或别的基片上，那么第一个图的图谱主要峰应该是基片材料的峰，而第二个扫描的掠入射扫的很差

那个就是ZnO（002）峰吧
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5楼2013-12-17 17:45:28
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小菜虫000

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
6楼: Originally posted by crazy1987 at 2013-12-18 15:15:08
有可能，不知道他用的是什么基片，不过很明显，这个就是基片的峰...

用的si（111），这34左右的明显的ZnO的
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8楼2013-12-18 17:17:53
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liu2004m

荣誉版主 (文坛精英)

优秀版主优秀版主优秀版主

【答案】应助回帖

测试方法不同导致的，薄膜一般用掠入射的方法进行测量
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2楼2013-12-16 21:03:14
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crazy1987

铁虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

如果是普通的粉末法（其实不叫粉末法）测试的话，那应该是普通扫描，那么，如果你的薄膜是附在一个pt基片或别的基片上，那么第一个图的图谱主要峰应该是基片材料的峰，而第二个扫描的掠入射扫的很差
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3楼2013-12-17 10:19:37
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小菜虫000

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by liu2004m at 2013-12-16 21:03:14
测试方法不同导致的，薄膜一般用掠入射的方法进行测量

为什么会这么大差距呢？两种测试方法会有差别，但不会出现这种本质上的差别吧，出来的相都不一样了
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4楼2013-12-17 17:44:44
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crazy1987

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
5楼: Originally posted by 小菜虫000 at 2013-12-17 17:45:28
那个就是ZnO（002）峰吧...

有可能，不知道他用的是什么基片，不过很明显，这个就是基片的峰
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6楼2013-12-18 15:15:08
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

掠入射，慢扫试试，这信噪比太差了
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7楼2013-12-18 15:20:13
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yajing890710

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

可能是基底的原因吧。我做的是三氧化二铝薄膜掺镁，我们有共同点喔，
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9楼2013-12-18 19:58:59
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qfw_68

版主 (文坛精英)

有尾巴的青蛙

【答案】应助回帖

按照常规衍射（θ-2θ扫描），那么，参与衍射的面只是那些与样品表面平行的面（或者近似平行）。
采用掠入射衍射，则衍射晶面就不是与样品表面平行的面，而一个与样品表面存在一个夹角的面（首先这些面存在，且满足衍射条件）。
所以扫描方法不同，XRD图是不同的。
图1的主峰是ZnO（200）面的衍射峰无疑。
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没有困难创造困难也要上网。
10楼2013-12-19 09:18:41
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