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小菜虫000

新虫 (初入文坛)

[求助] XRD测试，用薄膜测试法和粉末测试法出来的结果完全不同！！

我PLD制备的ZnO掺Mg薄膜，为啥我用不同的测试方法出来的数据完全不同，如下图。上面是我用粉末法测试的，下面的是薄膜法测试的且薄膜测试的能量更高！求解！
XRD测试，用薄膜测试法和粉末测试法出来的结果完全不同！！
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1楼 2013-12-16 17:29:35
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小菜虫000

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
2楼: Originally posted by liu2004m at 2013-12-16 21:03:14
测试方法不同导致的，薄膜一般用掠入射的方法进行测量

为什么会这么大差距呢？两种测试方法会有差别，但不会出现这种本质上的差别吧，出来的相都不一样了
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4楼2013-12-17 17:44:44
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liu2004m

荣誉版主 (文坛精英)

优秀版主优秀版主优秀版主

【答案】应助回帖

测试方法不同导致的，薄膜一般用掠入射的方法进行测量
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2楼2013-12-16 21:03:14
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crazy1987

铁虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

如果是普通的粉末法（其实不叫粉末法）测试的话，那应该是普通扫描，那么，如果你的薄膜是附在一个pt基片或别的基片上，那么第一个图的图谱主要峰应该是基片材料的峰，而第二个扫描的掠入射扫的很差
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3楼2013-12-17 10:19:37
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小菜虫000

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
3楼: Originally posted by crazy1987 at 2013-12-17 10:19:37
如果是普通的粉末法（其实不叫粉末法）测试的话，那应该是普通扫描，那么，如果你的薄膜是附在一个pt基片或别的基片上，那么第一个图的图谱主要峰应该是基片材料的峰，而第二个扫描的掠入射扫的很差

那个就是ZnO（002）峰吧
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5楼2013-12-17 17:45:28
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