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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 专业学科区 » 物理 » 凝聚态物理 » 【求助】请问如何测量禁带宽度？电学方法准确，还是光学方法准确？
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lcljldx

超级版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！

[交流] 【求助】请问如何测量禁带宽度？电学方法准确，还是光学方法准确？

测量禁带宽度的方法有很多种，例如：C60是一种直接带隙半导体，带隙宽度理论计算为1.5eV ， 电学变温实验测量为1.6eV ，紫外吸收谱观察为1.74eV ，1.5-2.0eV，光电效应 1.9 eV，光激发谱测量为1.7eV，Auger谱测量为2.3eV。
    可是那种方法测量的是准确的呢？光学方法准呢？还是电学方法准呢？它们之间有什么区别与联系吗？请高手指点，在此表示感激。
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1楼 2011-03-31 22:08:37
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回帖支持 ( 显示支持度最高的前 50 名 )

jshine

超级版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
lcljldx(金币+5): 2011-04-25 20:10:22
材料带隙测量精度本来就不很高，这个和材料晶格结构和所含杂质有关，光学方法对杂质非常敏感，因此不同人对同一种材料的不同样品测出来就会有一定差别，想特别精确测量没有实在意义，即使精确测量了，也仅仅是你这一个样品而已，换个样品，可能就不是这个值。
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6楼2011-04-02 13:20:36
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普通回帖

GrasaVampiro

新虫
lcljldx(金币+1): 2011-04-01 09:29:34
lcljldx(金币+2): 2011-04-25 20:10:47
各种测试手段条件一样吗？这才是问题所在
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2楼2011-03-31 23:16:45
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cord

主管区长

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
lcljldx(金币+1): 2011-04-01 09:29:49
lcljldx(金币+1): 2011-04-25 20:10:39
各种测试手段都有局限性，有的只是测量了材料表面层部分，并不能代表材料体特性。
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3楼2011-04-01 03:45:42
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chinawhirl

版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
lcljldx(金币+1): 2011-04-01 09:29:54
lcljldx(金币+1): 2011-04-25 20:10:33
光学方法相对准确些
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4楼2011-04-01 07:33:48
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nzhth

版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
lcljldx(金币+1): 2011-04-01 09:30:06
lcljldx(金币+1): 2011-04-25 20:10:28
建议光学法，简单，也公认。
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5楼2011-04-01 08:00:49
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20002504

版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
lcljldx(金币+1): 2011-04-25 20:10:15
引用回帖:
Originally posted by cord at 2011-04-01 03:45:42:
各种测试手段都有局限性，有的只是测量了材料表面层部分，并不能代表材料体特性。

光学！
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7楼2011-04-02 13:32:51
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donkeypku

管理员

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lcljldx(金币+2): 高手 2011-04-03 12:17:37
lcljldx(金币+2): 2011-04-25 20:10:10
引用回帖:
Originally posted by lcljldx at 2011-03-31 22:08:37:
测量禁带宽度的方法有很多种，例如：C60是一种直接带隙半导体，带隙宽度理论计算为1.5eV ， 电学变温实验测量为1.6eV ，紫外吸收谱观察为1.74eV ，1.5-2.0eV，光电效应 1.9 eV，光激发谱测量为1.7eV，Auger谱测量 ...

光学发准啊，而光电子谱都不会太准，主要是终态已经不是电中性的
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8楼2011-04-02 13:47:38
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sciencemaji

实习版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
lcljldx(金币+1): 2011-04-03 12:17:14
lcljldx(金币+1): 2011-04-25 20:09:59
支持光学方法
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9楼2011-04-02 17:13:19
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lcljldx

超级版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
夕阳西下: 要保持测量的准确性样品当然要符合测量的要求，并不是随便一个物体都可以使用。 2011-06-11 10:40:02
经过长时间的琢磨，我发现并不是光学方法是准的，以紫外为例：测量紫外的话主要是探测样品的透射比例，其中还会遇到反射、散射等情况无法考量，另外，并不是所有的激光都能穿透样品，样品尺度太大，透光性不好均会造成无法利用光学方法对带隙进行测量或者测量不准确！
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10楼2011-06-10 21:44:47
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091820053

实习版主
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小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖
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11楼2011-07-10 18:39:43
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lcljldx

实习版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
引用回帖:
楼: Originally posted by 091820053 at 2011-07-10 18:39:43:
电学方法怎么测量呢，楼主赐教啊

利用电学方法测量带隙只是针对本征半导体而言的，非本征半导体测量到的是激活能。测量本征半导体的带隙要利用变温实验，然后利用Arrhenius方程计算可得。
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12楼2012-01-06 15:13:35
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091820053

实习版主
本帖内容被屏蔽
13楼2012-01-07 16:23:35
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fdyong123

管理员

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
145248楼: Originally posted by lcljldx at 2011-03-31 22:08:37
测量禁带宽度的方法有很多种，例如：C60是一种直接带隙半导体，带隙宽度理论计算为1.5eV ， 电学变温实验测量为1.6eV ，紫外吸收谱观察为1.74eV ，1.5-2.0eV，光电效应 1.9 eV，光激发谱测量为1.7eV，Auger谱测量为 ...

请问你这里提到的电学变温测量和光激发谱测量都是指什么呢，温度测量要达到多少才能满足使用阿伦纽斯公式1.5/0.02=75，75×300K~21000K, 太高了吧？ 光激发谱指荧光的？ 没懂，求赐教。如果有文献就更好了。
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14楼2013-02-28 10:24:53
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houhonghao

版主

优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！优秀！！有木有！！！
- -~不知道啊~
只能说各种条件对应不同的反应模式~
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15楼2013-11-08 17:51:01
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伴兰之石

管理员
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
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16楼2021-04-02 23:04:19
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