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Zhiwuren铁杆木虫 (著名写手)
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求助：紫外可见吸收表征禁带宽度与晶粒均匀度
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如题： 小弟制备了一种氧化物纳米颗粒，有文献报道这种纳米颗粒禁带宽度存在明显的尺寸效应，颗粒减少禁带宽度将变大。 XRD计算结果平均尺寸在45nm左右。 但SEM 和 TEM 实际观测分析结果显示 颗粒尺寸在15nm 到 60nm 之间，不均匀。 问题：若用紫外可见吸收谱测试表征这种材料禁带宽度，吸收谱线对应不同的晶粒尺寸会表现出多个吸收峰吗？ |
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