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问天麦饼

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[求助] 金属半导体接触

金属半导体接触加外压后势垒会因为镜象力和遂穿效应而变化,那么KFM测量的其实是已经变化了的接触势,是吗?
       半导体表面处能带有弯曲,功函数也改变了,但是内部是否不变。也就是说费米能级同Ec,Ev一起,在表面处有弯曲。
       KFM针尖和表面态之间的接触势加上表面态和半导体的表面势就是KFM测得的“接触势”,是吗?
       耗尽层是空间中,还是半导体表面处的,它究竟起了什么作用?和接触势是什么关系。它和势垒区什么关系。
答得好可追加
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问天麦饼

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7?: Originally posted by ????730 at 2013-09-22 16:39:10
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8楼2013-09-22 17:34:26
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877739751

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
建议看看刘恩科的《半导体物理》,第七章讲到金半接触,讲得挺好的。
心若在,梦就在!
2楼2013-09-21 19:21:36
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孙?730

至尊木虫 (知名作家)

优秀版主

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
问天麦饼: 金币+8, 有帮助, 多谢回答 2013-09-22 13:57:34
华丽的飘过: 金币+3, 3q 2013-10-01 21:08:46
几乎所有的有源探测都会改变样品的本来面貌

异质材料界面层附近的电子能量状态与体材料不同
当然 仅限于界面附近
至于 费米能级 价带 导带 等概念所对应的数值
自然会有所不同 但通常会说成 界面等效****

探针材料与被测界面之间存在“接触势”
通常界面两侧材料的测量值差 可以消掉这个值
但是 对薄界面 由于隧穿效应比较复杂 相消处理 并不精确

关于 耗尽层 各种版本的 半导体物理(学) 都有介绍
书上说的很清楚 这里不再把它们从书上般过来了
sunyu730_emuch@126.com
3楼2013-09-22 07:58:33
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问天麦饼

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3?: Originally posted by ????730 at 2013-09-22 07:58:33
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4楼2013-09-22 11:18:08
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