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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 计算模拟区 » 第一性原理 » MS » 关于简单读取态密度图和能带信息的方法
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hwceng0816

木虫 (著名写手)

[交流] 关于简单读取态密度图和能带信息的方法

本人不是学量子力学，或者凝聚态物理什么的，对能带图和态密度的所有了解都是看文献得到的一点知识，我想如果要把这两个图完全看懂，必定要花费很多时间，对于非专业的我们来说，只要能读取一些简单的信息就可以，所以我想请懂的你们来帮我指点一下，计算是用CASTEP做计算的。

为了说明问题，我上传了一个态密度，我想知道怎样从态密度看出带隙的大小？另外文献说带隙越大，这种物质的表现问脆性，有这么一个说法吗？
我大概知道，在能带图上，费米能级以上是导带，以下是价带，导带底和价带顶的距离为带隙，也叫禁带宽，那么从态密度上怎么看带隙呢？

最后，通过这个问题，我希望初学者能很快的上手。
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1楼 2012-03-25 16:41:19
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youji

木虫 (正式写手)
★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
liliangfang: 金币+1, 谢谢交流 2012-03-26 08:39:55
从这个图看的话，费米面穿过能带，即费米能级处态密度非零，这样的体系为金属导电性，带隙为零，不是半导体，半导体的带隙是非零的。
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6楼2012-03-26 08:36:34
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youji

木虫 (正式写手)
★ ★ ★ ★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
fzx2008: 金币+3, 谢谢指教 2012-03-26 09:29:29
hwceng0816: 金币+1 2012-05-19 14:14:58
引用回帖:
7楼: Originally posted by hwceng0816 at 2012-03-26 09:09:19:
你这样的理解错误了，首先这个图的带隙不为0，怎么能看出是0呢？体系貌似是半导体吧

大部分纯的硅材料或者纳米结构是半导体（不是所有，取决于结构）。
图片中的体系应该是K掺杂Si的这样一种体系。
据我的经验，图中没掺杂的Si体系应该是半导体，如果该体系符合刚性能带近似的话，中性半导体的带隙在 1.2 eV左右。
但是，现在是K掺杂后的体系DOS的图片。图中，费米能级处态密度是有非零的具体数值的，意味着费米面与能带交叉，产生了部分填充的能带。
这样的体系，很显然具有导电性的金属行为，带隙为零。
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8楼2012-03-26 09:28:06
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