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单晶硅基板xrd结果出现杂峰,求助!
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frankie1
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单晶硅基板xrd结果出现杂峰,求助!
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普通薄膜xrd扫描,单晶硅111基板,如图所示在39度出现了一个强度很小的峰,对不上相应的晶面,不知道怎么解释!还请大牛帮助
xrd result
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1楼
2015-06-21 12:12:16
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4楼
:
Originally posted by
frankie1
at 2015-06-22 07:40:12
非常感谢您的回答。基板只是单晶硅而已,没有做处理,所以表面应该是无任何东西的,例如薄膜。猜着应该是因为xrd机理原因或者其他原因造成的,计算过,但是这个角度的峰对应的晶面应该是消光的。原始数据在下一楼。...
我看了下你的数据。主峰的强度都超过4W了,相比之下你这个峰是不是有点太小了,赶脚可以认为是背底之一。另外,以前做过Si(100)的单晶基片衍射峰,只能体现出最强峰,但是你的材料在很窄的角度范围内出现了多个强峰,赶脚这材料不像是单晶。。。。。。因为单晶材料基本可以看作有择优取向的材料,其衍射与普通粉末多晶衍射有所区别。
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6楼
2015-06-22 09:14:40
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顶上去,这会没人看帖子么?
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2楼
2015-06-21 14:04:03
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出现杂峰可以通过单峰搜索或者元素选择进行检索,然后尝试比对。你这里说了基板材料,但是没说薄膜是什么材料,大家只看图是看不出来的。建议把原始数据放上。
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3楼
2015-06-22 00:11:45
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3楼
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Originally posted by
whd博士
at 2015-06-22 00:11:45
出现杂峰可以通过单峰搜索或者元素选择进行检索,然后尝试比对。你这里说了基板材料,但是没说薄膜是什么材料,大家只看图是看不出来的。建议把原始数据放上。
非常感谢您的回答。基板只是单晶硅而已,没有做处理,所以表面应该是无任何东西的,例如薄膜。猜着应该是因为xrd机理原因或者其他原因造成的,计算过,但是这个角度的峰对应的晶面应该是消光的。原始数据在下一楼。
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4楼
2015-06-22 07:40:12
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