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求助，求助，关于Co薄膜XRD物相分析的一个小问题
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我在热氧化硅基底上镀了双层膜，结构为Cu5nm/Co65nm，之后用XRD进行物相分析，结果在37.8°，44.2°，64.7°，77.9°四个位置出现了衍射峰，如图。44°附近有可能是Cu的峰。其它三个峰呢？右面两个峰和PDF卡片对不上，会不会是晶面倾斜而反射造成的？还有，为什么没在69°附近看见基底Si(001)的衍射峰？ SiO2/Cu5nm/Co65nm.png |
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2楼2015-03-23 20:32:18
